IN4170 – Microelectronics
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Integrert elektronikk er ryggraden i elektronikkrevolusjonen som startet med den f?rste integrerte kretsen i 1958 og som for tiden er legemliggjort av smarttelefonene i alles lommer. Deres sentrale prosesseringsenheter inneholder milliarder av integrerte transistorer p? noen f? kvadrat-millimeter. Videre forbinder en mengde integrerte sensorgrensesnitt og antennedrivere den med den virkelige verden.
Emnet gir en introduksjon til moderne elektronikk (CMOS) teknologi og fullt tilpasset integrert kretsdesign for b?de grunnleggende analoge og digitale kretser.
Hva l?rer du?
Du skal l?re grunnlaget for integrert kretsdesign, dvs. de helt grunnleggende kretsene som all integrert elektronikk er bygget p?. Dette inkluderer grunnleggende analoge CMOS-kretser, inkludert grunnleggende kretsanalyse og de n?dvendige signalbehandlingsverkt?y, samt den grunnleggende strukturen til digitale logiske porter og analyse av deres ytelsesbegrensninger.
Etter ? ha tatt emnet?skal du kunne:
- forestille deg og designe enkle CMOS-integrerte skjemaer.
- analysere og optimalisere enkle CMOS-integrerte kretser som enkle forsterkere og logiske porter
- m?le og karakterisere enkle CMOS-integrerte kretser i et elektronikklaboratorium.
- forst? og bruke begreper for kretsanalyse som sm? signalanalyser, forsterkning, overf?ringsfunksjon, b?ndbredde, portforsinkelse, str?mforsinkelsesprodukt, etc.
- masteremnet vil ogs? inkludere ekstra pensum og introdusere?noen f? ekstra integrerte kretser, som for eksempel likerettere og spenningsreferanser eller digitale flip-flops og latches
Opptak til emnet
Studenter m? hvert semester?s?ke og f? plass p? undervisningen og melde seg til eksamen?i Studentweb.
IN3170 og IN4170 vil bli sett i sammenheng opp mot antall plasser, med prioritet gitt til bachelorstudenter ved studieprogrammene Informatikk: Robotikk og intelligente systemer eller?Elektronikk, informatikk og teknologi
Anbefalte forkunnskaper
FYS1210 – Elektronikk med prosjektoppgaver eller IN1080 – Mekatronikk, FYS3220 – Line?r kretsteori og FYS2210 – Halvlederkomponenter (videref?rt)
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp med IN3170 – Microelectronics.
- 5 studiepoeng overlapp med INF4411 – Analog mikroelektronikk (nedlagt).
- 5 studiepoeng overlapp med INF4410 – Analog mikroelektronikk (nedlagt).
- 5 studiepoeng overlapp med INF4400 – Digital mikroelektronikk (nedlagt).
- 5 studiepoeng overlapp med INF3410 – Analog mikroelektronikk (nedlagt).
- 5 studiepoeng overlapp med INF3400 – Digital nanoelektronikk (nedlagt).
Undervisning
2 timer med forelesning og 1?time ?velser hver uke. 3 obligatoriske laboppgaver (2 timer per uke med labassistent og ellers fri tilgang til laben).
1 laboppgave er obligatorisk og m? v?re godkjent f?r du kan g? opp til eksamen.??Les mer om krav til innlevering av oppgaver, gruppearbeid og lovlig 澳门葡京手机版app下载 under retningslinjer for obligatoriske oppgaver.
2 laboppgaver teller opp mot den endelige karakteren (se under Eksamen for detaljer).
Eksamen
2 laboppgaver som hver teller 20% mot endelig karakter
4 timers skriftlig digital eksamen som teller 60% mot endelig karakter.
1 laboppgave er obligatorisk og m? v?re godkjent f?r du kan g? opp til eksamen. Alle deler av eksamen m? best?s, og alle deler m? best?s samme semester.?
?
Som eksamensfors?k i dette emnet teller ogs? fors?k i f?lgende tilsvarende emner: IN3170 – Microelectronics
Hjelpemidler til eksamen
Alt skriftlig materiale
Eksamensspr?k
Du kan besvare eksamen p? norsk, svensk, dansk eller engelsk.
Karakterskala
Emnet bruker?karakterskala fra A til F, der A er beste karakter og F er stryk. Les mer om?karakterskalaen
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig frav?r fra ordin?r eksamen, kan ta?utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordin?r eksamen, eller som ikke har best?tt.
Mer om eksamen ved UiO
- Kildebruk og referanser
- Tilrettelegging p? eksamen
- Trekk fra eksamen
- Syk p? eksamen / utsatt eksamen
- Begrunnelse og klage
- Ta eksamen p? nytt
- Fusk/fors?k p? fusk
Andre veiledninger og ressurser finner du p? fellessiden om eksamen ved UiO.