TEK9050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Emnet handler om virkem?te og teknologi for kameraer, bildesensorer og lysdetektorer i hele det optiske b?lgelengdeomr?det fra synlig lys til infrar?d varmestr?ling. Emnet gir innsikt i signalveien fra lyskilder, gjennom atmosf?re og optikk, til bildesensor eller detektor, og videre til analoge elektriske signaler og digitale bildedata. Et sentralt tema er hvordan slike systemer kan karakteriseres med tanke p? egenskaper som oppl?sning, f?lsomhet, st?y og hastighet. Mye av stoffet illustreres med praktiske demonstrasjoner.
Hva l?rer du?
Etter ? ha gjennomf?rt emnet vil du ha
- god innsikt i virkem?ten til kameraer og bildesensorer
- god forst?else av fysikken bak digitale bildedata
- god kjennskap til oppbygning og virkem?te for ulike typer detektorer som omsetter lys til elektriske signaler
- god forst?else av signalveien fra lyskilde til elektrisk signal
- god kjennskap til hvordan man beskriver egenskaper og ytelse hos kameraer og detektorer
- en dypere innsikt i en del av pensum relatert til ph.d.-oppgaven din
Opptak til emnet
Ph.d.-kandidater ved UiO s?ker plass p? undervisningen og melder seg til eksamen i Studentweb.
Hvis emnet har begrenset kapasitet, vil ph.d.-kandidater som har emnet i sin utdanningsplan ved UiO, bli prioritert. Noen nasjonale forskerskoler kan ha egne regler for rangering av s?kere til emner med begrenset kapasitet.
Ph.d.-kandidater som har opptak ved andre utdanningsinstitusjoner, m? innen angitt frist s?ke om hospitantplass.
Anbefalte forkunnskaper
Det er nyttig ? ha kjennskap til grunnleggende elektronikk, signalteori og?fysikk, inklusiv?grunnleggende halvlederfysikk tilsvarende FYS3410 – Kondenserte fasers fysikk (videref?rt), men det blir gitt korte introduksjoner til stoff som hentes fra andre fagfelt.
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp med TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling.
- 10 studiepoeng overlapp med UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling (videref?rt).
- 10 studiepoeng overlapp med UNIK9330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling (videref?rt).
- 9 studiepoeng overlapp med UNIKF351.
Undervisning
3 timer forelesning og regne?velser per?uke gjennom hele semesteret.
Emnet har obligatoriske oppgaver som m? v?re godkjent for ? kunne g? opp til eksamen.
Ph.d.-kandidater m? f? godkjent en ekstra oppgave, som demonstrerer god forst?else av en n?rmere bestemt del av pensum.
Emnet undervises p? Institutt for teknologisystemer p? Kjeller forskningspark. Se rutetabellen for instituttets egen studentbuss fra Blindern.
Eksamen
- Avsluttende muntlig eksamen teller 100% ved sensurering.
- Ved stort antall kandidater kan det bli holdt skriftlig eksamen.
- Det er obligatoriske oppgaver som m? v?re godkjent for at du skal kunne g? opp til eksamen.
- Ph.d.-kandidater skal, i forhold til masterstudenter p? den klonede versjonen av emnet (TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling), levere en oppgave som demonstrerer god forst?else av en n?rmere bestemt del av pensum.? Oppgaven m? v?re godkjent f?r avsluttende eksamen.
Som eksamensfors?k i dette emnet teller ogs? fors?k i f?lgende tilsvarende emner:
- TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling
- UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling (videref?rt)
- UNIK9330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrar?d str?ling (videref?rt)
Hjelpemidler til eksamen
Ingen hjelpemidler er tillatt.
Eksamensspr?k
Dersom emnet undervises p? engelsk, vil det bare tilbys eksamensoppgavetekst p? engelsk. Du kan besvare eksamen p? norsk, svensk, dansk eller engelsk.
Karakterskala
Emnet bruker karakterskala?best?tt / ikke best?tt. Les mer om karakterskalaen.
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig frav?r fra ordin?r eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordin?r eksamen, eller som ikke har best?tt.
Mer om eksamen ved UiO
- Kildebruk og referanser
- Tilrettelegging p? eksamen
- Trekk fra eksamen
- Syk p? eksamen / utsatt eksamen
- Begrunnelse og klage
- Ta eksamen p? nytt
- Fusk/fors?k p? fusk
Andre veiledninger og ressurser finner du p? fellessiden om eksamen ved UiO.